Étude des pièges de l'oxyde d'une structure mos par stimulation thermique
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Auteurs : L. Lassabatere [France] ; G. Seve [France] ; J. Mendolia [France]Source :
- Thin Solid Films [ 0040-6090 ] ; 1970.
Abstract
Résumé: La mesure des courants stimulés thermiquement permet d'étudier les centres pièges dans l'oxyde d'une structure MOS. Par cette technique appliquée à une structure Si-SiO2-Au, on met en évidence dans la silice thermique un continuum de pièges localisés dans la bande interdite dont l'énergie d'activation est comprise entre 0,1 et 1 eV. La densité globale et les sections efficaces ont été évaluées.
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DOI: 10.1016/0040-6090(70)90001-5
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